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薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀的三種工作原理介紹

更新時(shí)間:2025-01-20瀏覽:135次

  薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀是一種專門用于測(cè)量薄膜材料導(dǎo)熱性能的儀器,它能夠準(zhǔn)確測(cè)量薄膜材料的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散系數(shù)等關(guān)鍵參數(shù),這些參數(shù)對(duì)于評(píng)估薄膜材料的熱傳導(dǎo)性能非常重要。
 
  薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀的工作原理因測(cè)試方法的不同而有所差異。常見(jiàn)的測(cè)試方法包括激光閃射法、熱流法和熱反射法(頻域熱反射法或瞬態(tài)熱線源法)。
 
  1、激光閃射法
 
  該方法利用激光二極管發(fā)出激光光源,聚焦的光束穿過(guò)三維檢腔,當(dāng)光在行進(jìn)中遇到微小顆粒時(shí)會(huì)發(fā)生散射。通過(guò)測(cè)量散射光的光通量,可以間接得到薄膜材料的導(dǎo)熱性能。
 
  2、熱流法
 
  該方法基于溫差和熱流量之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系進(jìn)行傳熱系數(shù)的測(cè)定。
 
  3、熱反射法(瞬態(tài)熱線源法)
 
  該方法使用一根金屬線作為熱線源,同時(shí)充當(dāng)加熱元件和溫度傳感器。測(cè)試時(shí),通過(guò)熱線源施加一個(gè)短暫的電流脈沖使其產(chǎn)生熱量,熱量從熱線源沿著樣品傳播導(dǎo)致熱線源冷卻。冷卻速率取決于周圍材料的熱導(dǎo)率,通過(guò)分析熱線源的冷卻曲線并利用適當(dāng)?shù)臄?shù)學(xué)模型(如一維徑向熱流模型),可以確定未知樣品的熱導(dǎo)率。
 
  C-Therm Trident薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀的Flex TPS瞬態(tài)平面熱源法傳感器,可按照ISO 22007-2標(biāo)準(zhǔn),用于表征薄膜材料的熱傳遞性質(zhì)。Flex TPS專門的薄膜模塊,可測(cè)量厚度為20um ~ 1 mm樣品的導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)。并且Trident主機(jī),除TPS方法外,還可與MTPS和TLS傳感器連用,測(cè)試更多不同類型的材料。

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